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IA/0027 - LABORATORIO DI DIAGNOSTICA DEI DISPOSITIVI ELETTRONICI

Anno Accademico 2017/2018

Docente
MASSIMO VANZI (Tit.)
Periodo
Secondo Semestre 
Modalità d'Erogazione
Convenzionale 
Lingua Insegnamento
 



Informazioni aggiuntive

CorsoPercorsoCFUDurata(h)
[70/83]  INGEGNERIA ELETTRONICA [83/00 - Ord. 2016]  PERCORSO COMUNE230
Obiettivi

Conoscenza e comprensione di
• Tecnologia dei semiconduttori
• Reverse engineering
• Meccanismi di guasto
• Principi di microscopia elettronica
• Metodologia per l’analisi di guasto

Capacità di applicare conoscenza e comprensione
• nella esecuzione di misure elettriche su dispositivi elettronici
• Nell’esecuzione di rimozione selettiva di materiali
• Nell’analizzare la superficie di un dispositivo mediante microscopia ottica ed elettronica

Abilità nell’identificare ed usare in autonomia dati per la risposta a quesiti concreti o astratti
• nella interpretazione dei dati sperimentali in termini di misura di degradazione delle caratteristiche elettriche
• nella valutazione di un report di analisi di guasto
Abilità comunicative
• nell’interagire con altre persone nell’affrontare e risolvere problemi teorici e pratici assegnati dal docente
• nell’esporre e discutere pubblicamente l’esito di propri lavori (tesine)
Capacità di apprendimento
• accedere a fonti complementari per lo studio della materia e la soluzione di problemi
• familiarità con la ricerca bibliografica

Prerequisiti

Sono indispensabili le conoscenze di Affidabilità dei dispositivi elettronici, Fisica dello Stato Solido, di teoria delle giunzioni pn che sono contenute nei corsi di Fisica dei Semiconduttori e di Dispositivi Elettronici della laurea triennale in Ingegneria Elettrica, Elettronica ed Informatica attiva presso l’Università di Cagliari.
In particolare sono necessarie le conoscenze di
• Design for Reliability
• Struttura a bande nei solidi
• Elettroni e lacune
• Giunzioni pn: tecnologia e caratteristiche elettriche

Contenuti

30 ore -
18 lezioni frontali in classe
12 laboratorio

Metodi Didattici

Lezioni frontali su:
Tecnologia dei semiconduttori (4h)
Microscopia Elettronica in scansione (SEM) e trasmissione (TEM), EDS, Focused Ion Beam (FIB) (6h)
Tecniche di Analisi e Reverse Engineering (4h)
Fisica dei meccanismi di guasto in microelectronica (4h)

Esercitazioni pratiche:
Analisi al microscopio elettronico in scansione, Analisi di guasto su dispositivi elettronici (12h)

Verifica dell'apprendimento

La valutazione finale consiste in un colloquio orale / la presentazione di una ricerca/tesina applicativa capace di valutare la conoscenza e comprensione della terminologia, la capacità comunicativa su tematiche di diagnostica dell’elettronica, la competenza pratica acquisita.

Testi

SM Sze Dispositivi a semiconduttore capitoli 8 - 12
Failure Analysis of Integrated circuits - tool and techniques L.C.Wagner - Kluwer Academic Publishers
slides a lezione

Altre Informazioni

Nessuna

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